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日本ERD高速處理介質(zhì)信號直流測試儀高精度 ATS-3610 無汞！處理器連接4設(shè)備獨(dú)立超高速介質(zhì)信號直流測試儀??！ MODEL ATS-3610 可高速、高精度地檢查并確定分立半導(dǎo)體制造過程中的直流特性。

日本進(jìn)口ERD分立式直流測試儀無汞高性能 ATS-3201 無汞！小信號直流測試儀?。? MODEL ATS-3201是最新款分立式直流測試儀，具有體積小、重量輕、高速、高性能、性價(jià)比高等特點(diǎn)。

英國IDB Systems接地傳導(dǎo)電壓測試儀監(jiān)測器 ID-471A / ID-471B ID-471A 接地傳導(dǎo)監(jiān)測器是篩查人員和確定其導(dǎo)電鞋的有效性所必需的設(shè)備。 測試器可提供多種配置，臨界電阻設(shè)置為 1000MΩ (109) 或 100MΩ (108)。 ID-471B 接地傳導(dǎo)測試儀為 ID-471A 提供了附加功能，包括模擬儀表和 5MΩ 下限故障點(diǎn)測試。

日本NPC手動型電阻率測試裝置用于多種材料 sigma-5+ 它可以精確測量硅片等的電阻率，還有用于太陽能電池的硅的便攜式探頭。 這是一款高精度電阻率測量儀器，采用20多年電阻率測量相關(guān)的專業(yè)知識和技術(shù)設(shè)計(jì)和開發(fā)。 可以在半導(dǎo)體基板和導(dǎo)電薄膜基板的研發(fā)/檢查過程或生產(chǎn)線中高精度地確定和評估薄層電阻值和體積電阻值。

日本NPC手持式非接觸式面電阻測試儀高精度 sigma-5+ 探頭接觸樣品即自動開始測量 可通過JOG旋鈕快速設(shè)定測量條件 5種測量范圍探頭可根據(jù)樣品電阻率進(jìn)行更換 可選配P/N型判定量測功能 應(yīng)用：硅片樣品， 化合物半導(dǎo)體， 外延層， 擴(kuò)散層， 碳化硅， 薄膜材料， 金屬膜， ITO, IZO, Low-E玻璃, LED/OLED等材料

日本NPC電阻率測試儀測量儀器高精度多功能 sigma-5+ 這是一款手動型測量儀器，采用四探針法，可輕松準(zhǔn)確地測量太陽能電池用硅片、液晶基板、金屬薄膜等的方塊電阻或體積電阻。它支持從低電阻到高電阻的各種測量。 1) 用于硅錠制造→晶圓制造工序（成膜等各工序）的產(chǎn)品檢查　 2) 液晶面板（LCD基板）制造：成膜時(shí)的產(chǎn)品檢查 3) 用于各種導(dǎo)電材料制造過程中的產(chǎn)品檢驗(yàn)

日本nippa電纜測試儀線纜/線束檢查高效率 NCT-100 支持線纜/線束檢查，操作簡單支持瞬時(shí)中斷檢查和連續(xù)性檢查

日本morita無線電切斷手持式屏蔽箱測試儀 WM1019-04178H 該款屏蔽箱為手入式屏蔽箱，具有80dB的良好屏蔽特性，即使將諸如手機(jī)、智能手機(jī)和平板的無線通信設(shè)備置于強(qiáng)電場的環(huán)境中，也可使設(shè)備達(dá)到【無信號】的狀態(tài)。適合被應(yīng)用在移動設(shè)備取證和智能手機(jī)取證等用途上。因內(nèi)部可安裝夾具和天線等部件，所以也可完成OTA測試試驗(yàn)。