光學(xué)薄膜桌面型離線接觸式線性測厚儀

光學(xué)薄膜桌面型離線接觸式線性測厚儀
桌面型離線接觸式厚度測量裝置，適用于薄膜、高精度塑料薄膜（如聚酰亞胺薄膜、光學(xué)薄膜等）的厚度測量。
自動運輸測量，確保測量數(shù)據(jù)的一致性，無個人差異。
厚度分布雷達圖：可用于調(diào)整膨脹薄膜，直觀展示厚度分布。
高精度測量：接觸式測量，最小顯示值可達0.01微米。

產(chǎn)品型號：TOF-6R001
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
更新時間：2025-10-22
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詳細介紹

光學(xué)薄膜桌面型離線接觸式線性測厚儀
光學(xué)薄膜桌面型離線接觸式線性測厚儀

桌面型離線接觸式厚度測量裝置，適用于薄膜、高精度塑料薄膜（如聚酰亞胺薄膜、光學(xué)薄膜等）的厚度測量。以下是其特點和規(guī)格：

產(chǎn)品特點

簡單快速的離線厚度測量：操作簡便，測量速度快。
數(shù)據(jù)實時顯示與保存：測量數(shù)據(jù)實時顯示在屏幕上，并可自動保存到個人電腦。
自動運輸測量：自動運輸測量，確保測量數(shù)據(jù)的一致性，無個人差異。
厚度分布雷達圖：可用于調(diào)整膨脹薄膜，直觀展示厚度分布。
高精度測量：接觸式測量，最小顯示值可達0.01微米。

技術(shù)規(guī)格

測量厚度范圍：5～100微米
測量長度范圍：10～10000毫米
測量間距：0.1毫米及以上
最小顯示值：0.01微米
測量壓力：0.19 N（或0.12 N）
電源電壓：AC100V，50/60Hz
使用溫度范圍：10～40℃
濕度范圍：35～80%（無冷凝）
功耗：50VA（不含電腦）

卓上型オフライン接觸式厚さ計測裝置

品質(zhì)管理、研究開発用途に最適

型式	TOF-6R001
計測方式	接觸式/リニアゲージ
計測対象	薄膜高精度プラスチックフィルム（ポリイミドフィルム、光學(xué)フィルムなど）
計測原理	リニアゲージ