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產(chǎn)品展示/ Product display

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  • AM6日本atomax全自動剝離機(jī)用超細(xì)二流體噴嘴

    日本atomax全自動剝離機(jī)用超細(xì)二流體噴嘴 AM系列噴嘴(AM6/AM12/AM25/AM45): 能夠產(chǎn)生平均粒徑約5μm的超微粒子。 適用于表面薄膜涂層、科學(xué)醫(yī)療領(lǐng)域中的極少量噴霧、室內(nèi)及設(shè)施的殺菌消毒等。 AM6和AM12型適合極少量流量的微粒子噴霧。

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    2025-10-15

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  • AM12日本atomax汽車精密零件涂布二流體噴嘴

    日本atomax汽車精密零件涂布二流體噴嘴 AM系列噴嘴(AM6/AM12/AM25/AM45): 能夠產(chǎn)生平均粒徑約5μm的超微粒子。 適用于表面薄膜涂層、科學(xué)醫(yī)療領(lǐng)域中的極少量噴霧、室內(nèi)及設(shè)施的殺菌消毒等。 AM6和AM12型適合極少量流量的微粒子噴霧。

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    2025-10-15

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  • AM6/AM12日本atomax電子基板精細(xì)涂布二流體噴嘴

    日本atomax電子基板精細(xì)涂布二流體噴嘴 能夠產(chǎn)生平均粒徑約5μm的超微粒子。 適用于表面薄膜涂層、科學(xué)醫(yī)療領(lǐng)域中的極少量噴霧、室內(nèi)及設(shè)施的殺菌消毒等。 AM6和AM12型適合極少量流量的微粒子噴霧

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    2025-10-14

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  • SF-3日本otsuka大塚分光干涉式晶圓膜厚儀

    日本otsuka大塚分光干涉式晶圓膜厚儀 分光干涉式晶圓膜厚儀 SF-3 即時檢測 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強(qiáng)酸環(huán)境中) 產(chǎn)品特色 非接觸式、非破壞性光學(xué)式膜厚檢測 采用分光干涉法實現(xiàn)高度檢測再現(xiàn)性

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    2025-10-13

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  • OPTM-A1otsuka大塚透明電極材料膜厚儀涂層測厚儀

    otsuka大塚透明電極材料膜厚儀涂層測厚儀 顯微分光膜厚儀 OPTM series 是一種高精度的膜厚測量設(shè)備,適用于各種材料和應(yīng)用場景。它的特點包括: 高精度測量:能夠精確測量膜厚,適用于需要高精度控制的工藝。 非破壞性測量:無需破壞樣品即可進(jìn)行測量,適用于質(zhì)量控制和研發(fā)。 多功能性:適用于多種材料和膜層,包括SiO2、SiN、ITO等。 易于操作:用戶界面友好,操作簡便。

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    2025-10-13

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  • OPTM-A3日本otsuka大塚DLC涂層厚度測量儀膜厚儀

    日本otsuka大塚DLC涂層厚度測量儀膜厚儀顯微分光膜厚儀 OPTM series 是一種高精度的膜厚測量設(shè)備,適用于各種材料和應(yīng)用場景。它的特點包括: 高精度測量:能夠精確測量膜厚,適用于需要高精度控制的工藝。 非破壞性測量:無需破壞樣品即可進(jìn)行測量,適用于質(zhì)量控制和研發(fā)。 多功能性:適用于多種材料和膜層,包括SiO2、SiN、ITO等。 易于操作:用戶界面友好,操作簡便。

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  • OPTM-A2日本otsuka大塚FPD彩色濾光片薄膜測厚儀

    日本otsuka大塚FPD彩色濾光片薄膜測厚儀 顯微分光膜厚儀 OPTM series 是一種高精度的膜厚測量設(shè)備,適用于各種材料和應(yīng)用場景。它的特點包括: 高精度測量:能夠精確測量膜厚,適用于需要高精度控制的工藝。 非破壞性測量:無需破壞樣品即可進(jìn)行測量,適用于質(zhì)量控制和研發(fā)。 多功能性:適用于多種材料和膜層,包括SiO2、SiN、ITO等。 易于操作:用戶界面友好,操作簡便。

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  • OPTM-A1日本otsuka大塚非接觸式顯微分光膜厚儀

    日本otsuka大塚非接觸式顯微分光膜厚儀 顯微分光膜厚儀 OPTM series 是一種高精度的膜厚測量設(shè)備,適用于各種材料和應(yīng)用場景。它的特點包括: 高精度測量:能夠精確測量膜厚,適用于需要高精度控制的工藝。 非破壞性測量:無需破壞樣品即可進(jìn)行測量,適用于質(zhì)量控制和研發(fā)。 多功能性:適用于多種材料和膜層,包括SiO2、SiN、ITO等。 易于操作:用戶界面友好,操作簡便。

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